「応用情報技術者試験合格テキスト」第1章補足 1.1.3〔5〕 ESD破壊と寄生サイリスタ
拙著「応用情報技術者試験合格テキスト 2012年版」の補足です。できれば改版時に追加したいと思います。
第1章1.1.3〔5〕 ESD破壊と寄生サイリスタ 新規
ESD破壊は、LSIの故障メカニズムの一つです。これは、静電気放電によって，半導体素子が破壊されてしまう現象であり、作業者によるESD破壊は、事前に静電気を安全な方法で放電しておくことで防げます。寄生サイリスタとは、LSIの生産工程において形成されてしまう不適切な回路です。意図しない導通によってLSIが破壊されてしまう危険性があり、寄生サイリスタの発生を防ぐ技術が開発されていますが高コストになるというデメリットがあります。
【略語】 ESD：Electrostatic Discharge
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